Scaling Aspects of Nanowire Schottky Junction based Reconfigurable Field Effect Transistors uri icon Tagungsband

Im Bibliotheksbestand

Überblick

Freigegeben

  • Ja

AutorInnen

  • Baldauf, Tim
  • Heinzig, André
  • Mikolajick, Thomas
  • Weber, Walter Michael

Veröffentlichungszeitpunkt

  • 2019

Open-Access-Kennzeichnung

  • Closed Access

Peer Reviewed

  • Nein

Sprachen

  • englisch

Im Bibliotheksbestand

  • Ja Im Bibliotheksbestand

Forschung

Schlagwörter

  • RFET
  • SBFET
  • Schottky junction
  • TCAD
  • nanowire
  • reconfigurable logic
  • scaling
  • screening length
  • simulation
  • tunneling

Identität

International Standard Serial Number (ISSN )

  • 24729132

Internationale Standardbuchnummer (ISBN) 10

  • 1728116589

Anderes

Kuratierungs-Zielkategorie (intern)

  • Ja