Study of 22/20nm Tri-Gate transistors compatible in a low-cost hybrid FinFET/planar CMOS process Tagungsband uri icon

Überblick

Veröffentlichungszeitpunkt

  • 2011

Autor/in (verknüpft)

  • Baldauf, Tim  Professor für Theoretische Elektrotechnik / Optoelektronik

Open-Access-Kennzeichnung

  • Closed Access

Sprachen

  • englisch

Beteiligte Organisationen

  • Fakultät Elektrotechnik

Forschung

Schlagwörter

  • Electrostatics
  • FinFETs
  • Logic gates
  • Threshold voltage

Identität

Internationale Standardbuchnummer (ISBN) 13

  • 1457717549